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        教師信息個人照片

        姓名

        劉 

        性別

        年月

        1978.2

        最終學位

        博士

        畢業學校

        中國科學院計算技術研究所

        從事專業

        計算機應用技術

         職務


        所屬院系

        計算機科學與技術

        所屬科室(研究所)












        計算與系統結構/情感計算與先進智能機器安徽省重點實驗室












        職稱













          


        副教授















        聯系方式
             辦公室地址翡翠科教樓A810
             E-mail   liujun@hfut.edu.cn
            通訊地址安徽省合肥市蜀山區丹霞路485號(合肥工業大學翡翠湖校區)計算機與信息學院
            郵  編230601
        簡    歷

          

        劉軍,博士學位,副教授,碩士生導師,中國計算機學會容錯計算專業委員會委員。 2011年博士畢業于中國科學院計算技術研究所,2016-2017年美國德州大學奧斯汀分校訪問學者。主持國家自然科學基金、安徽省自然科學基金、計算機體系結構國家重點實驗室開放課題、中國科學技術交流中心委托課題等。參加國家自然科學基金重點課題、科技部973、863以及國際合作交流等項目。
        研究方向


        主要研究方向為計算機系統、機器學習加速等。


        教學工作

        本科生課程《數字邏輯》、《計算機系統設計》等。

        已指導畢業碩士研究生多名,學生畢業去向技歡迎各位學子報考!

        獲獎情況

        吳文俊人工智能科學技術獎進步獎
        主要論著

        [1]J.Liu(), Y.Han, X.Li, “Extended Selective Encoding for Reducing Test Data and Test Power”, IEICE Transactions on Information and Systems, 93(8), pp.2223-2232, 2010. (SCI, EI)
         [2]
        軍,吳璽,韓銀和,李曉維,基于可重構MUXs網絡的低功耗測試數據壓縮方法,電子學報, 39(5),pp.1190-1193,2011。(EI)
         [3]
        軍,韓銀和,李曉維,動態更新參考切片的IP核測試數據壓縮方法,計算機輔助設計與圖形學學報,22(11),pp.2013-2020,2010。(EI)
         [4]J.Liu(
        ), Y.Han, X.Li, “Extended Selective Encoding for Reducing Test Data and Test Power”, Proceedings of IEEE Asian Test Symposium(ATS), pp.323-328, 2009. (EI)
         [5]J.Liu(
        ), Y.Han, X.Li, “Scan Slices Compression Technique Using Dynamical Reference Slices”, Proceedings of IEEE Workshop on RTL and High Level Testing(WRTLT), pp.82-85, 2009.
         [6]
        梁華國,劉軍,蔣翠云,歐陽一鳴,易茂祥 “約束輸入精簡的多掃描鏈BIST方案,計算機輔助設計與圖形學學報,19(3),pp.371-375,2007。(EI) 
         [7]
        璽,劉軍,劉正瓊,內建自測試相移器設計算法的優化,電子技術應用,pp.31-33,2007年第6期。
         [8]
        軍,梁華國,李揚, “一種基于測試數據兩維壓縮的BIST新方案,合肥工業大學學報(自然科學版),29(10),pp.1215-1219,2006。
         [9] 
        揚,梁華國,劉軍,胡志國,基于部分測試向量切分的LFSR重新播種方法,計算機輔助設計與圖形學學報,19(3),pp.361-365,2007。(EI) 
         [10]Y.Cheng, L.Zhang, Y.Han, J.Liu(
        ), X.Li, “Wrapper Chain Design for Testing TSVs Minimization in Circuit-Partitioned 3D SoC”, Proceedings of IEEE Asian Test Symposium(ATS), pp.181-186, 2011.(EI)

        已授權的發明專利:
         [1] 
        梁華國,劉軍,蔣翠云,王偉,李揚,易茂祥,歐陽一鳴,一種多掃描鏈的大規模集成電路測試數據壓縮方法,專利號:ZL 200610085910.X,授權日期:2009722
         [2] 
        梁華國,張磊,詹文法,易茂祥,歐陽一鳴,劉軍,黃正峰,李揚,毛劍波,一種塊標記的系統芯片測試數據壓縮方法,專利號:ZL 200610156030.7,授權日期:20081224


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